X射線能譜和波譜儀
X射線熒光光譜儀(XRF)可分析從4Be到92U的元素,測(cè)試范圍從常量到微量,重元素的檢測(cè)限可達(dá)ppm量級(jí),樣品可以是固體、粉末、熔融片、薄膜、液體等,具有重現(xiàn)性好,測(cè)量速度快,靈敏度高的特點(diǎn),被測(cè)樣品不必分離、不被破壞,分析方法比較簡(jiǎn)便。熒光光譜分析已廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、玻璃、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域,特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得最多也最廣泛。
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